破譯與自閉症有關的基因修飾

自閉症譜系障礙（ASD）是一種常見的神經發育障礙，與其有關的遺傳因素，由表觀遺傳學決定。表觀遺傳學通過對DNA或染色體進行基因修飾，在不改變DNA序列的情況下對基因表達進行調控。ASD患者的某些基因改變影響了大腦神經迴路的發育，從而損害了某些學習能力。本期封面文章，美國研究人員使用一種名叫「微分富集掃描（DEScan）」的技術，通過小鼠研究發現了與ASD有關的表觀遺傳性基因修飾來源，並證明這一新技術可以廣泛用來研究與學習障礙有關的遺傳因素。

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