新方法可實現高解析度納米材料磁性測量
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02-12
PICO透射電鏡可實現原子平面磁測量。
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分析測試百科網訊 在Nature Materials出版的一篇新文章中,來自北京,烏普薩拉和尤利希的研究人員已經取得了重大進展,可以實現非常高解析度的磁性測量。用他們的方法可以測量各個原子平面的磁性。美中不足的是該技術還沒有達到原子解析度。
電子顯微鏡是一種獨特的實驗工具,為科學家和工程師提供各種材料的豐富信息。與光學顯微鏡相反,它使用電子來研究材料。例如,在晶體中,可以常規觀察各個原子列。電子顯微鏡提供有關材料的結構,組成和化學性質的信息。由於人們對更強大電子設備的需求不斷增長,下一代自旋電子元件必須具有僅幾納米大的功能單元。如果我們能夠看到足夠的細節,那麼構建一個新的自旋電子裝置就容易了。隨著納米技術的快速發展,這變得越來越困難。能夠進行這種詳細成像的儀器是透射電子顯微鏡。
烏普薩拉大學、清華大學和德國Jülich研究中心的專家們一起研製並實驗證明了一種新的方法,可以對各個原子平面進行磁測量。該方法使用獨特的透射電子顯微鏡PICO,可以校正幾何和色差,允許在寬光譜範圍內詳細查看各個原子平面。
「這個想法來自鍾曉燕博士,我們之間的合作日益成熟。我們對實驗進行模擬之後,該實驗設計的有效性已經得到了證明:這個實驗真的提供了一個非常詳細的材料磁性看」。烏普薩拉大學的Rusz說道。
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