納米尺度掃描電化學顯微鏡體系的構建

掃描電化學顯微鏡 （SECM）在電化學分析研究中有重要的應用， 它藉助一個小小的探針可以獲得樣品的反應活性及表面形態等信息，但如果要實現納米尺度成像，有很多要素需要考慮。Bard等人報道了一種實用的納米尺度掃描電化學顯微鏡體系構建方法，以『Nanometer Scale Scanning Electrochemical MicroscopyInstrumentation』為題發表在Anal. Chem.上，並在Supporting Information附有Labview控制實例。本公眾號在此轉載相關內容，希望對SECM的初學者和有志於自己在實驗室組裝一套系統的同僚有所幫助。

圖一 納米尺度SECM的示意圖

圖二 (a) 隔熱單元中的SECM平台 (b)160 納米（半徑）Pt探針靠近SiO2基底時的時間—距離曲線

圖三 (a) 電流的流動 (b,c) SECM 實驗前後探針的SECM圖像

圖四 (a) 不同電解質中Pt納米粒子上的電荷轉移示意圖 (b) HOPG上電沉積的Pt粒子的SEM圖像

圖五 (a) Pt納米顆粒上氫氣氧化反應的SECM圖像 (b) SECM探針的理論電流—距離曲線 (c) 圖(a)中沿箭頭直線剖面電流

圖六 (a) 單個Pt粒子的SECM圖像 (b) 圖(a)中y=0.4um的剖面電流

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