角分辨陰極發光技術資料
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04-17
在陰極發光(CL),常常成像特定波長的強度(光譜)來研究材料。除了發光的波長(顏色),我們還關注光矢量-常動量和傳播方向來表達。對於納米結構材料,其光的發射和光的散射效應如何,這對於納米天線的結構設計和性能是重要因素。對於以上角動量的解析,對於材料研究顯得尤其重要。我們將這個技術稱之為角分辨解析技術。角分辨技術還可以深入了解周期性系統的能帶結構。
該概念如圖1所示: 陰極發光通過鋁製的半拋物收集鏡獲得,並轉成平行光,通過自由空間耦合導出到掃描電子顯微鏡(SEM)腔室外的相機(平面型2D CCD或CMOS)。這樣的方法,可以收集到所有發光信息,光強度,發光角度和光譜。


※SPARC系統在基於GaN的塊體和納米結構LED研究中的應用
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