錯誤率10％的16S全長序列能否準確分類？

分析的結果並不理想，結果顯示在10%的錯誤率的情況下，模擬文件在門水平上的注釋仍然和原始文件大致相似，在科水平上二者有些不同，但是也還能接受，可是在屬的水平上則差別太大，根本無法作圖，具體情況如下圖所示：

這使得我有點擔心納米孔可能並不適合16S測序這個應用場景，但是我還想嘗試2次，並不想這麼快就斷定它不行，回過頭來想想這個這個實驗設計的不合理，每個序列都去衍伸出20條序列，而原始文件的序列數太少，這樣就不由的放大了納米孔測序儀的高錯誤率對結果的影響，也許需要變化一下。

更改後的實驗設計：從資料庫中隨機抽取200條16S全長序列，然後設置0-100之間取隨機數生成某條序列的拷貝，從而形成原始文件，然後對原始文件中的每條序列進行隨機突變（10%的突變率）生成新的模仿文件，然後對原始文件和模仿文件進行物種注釋，比較二者的差異，這樣的設計也許才能符合真實的情況。

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