不容忽視，這一步決定了晶元製造的成敗！
導語：作為半導體產業的其中一個環節，半導體測試一直以來備受關注。隨著半導體製程工藝不斷提升，測試和驗證也變得更加重要。因此，這也是半導體研發從業人員必須掌握的基本技能。
近幾年，伴隨著人工智慧、大數據及物聯網等新一代信息技術的發展，全球半導體產業又迎來了一輪景氣周期。為了解決需求及供給不匹配的矛盾，我國正在大力發展半導體產業，以期實現國產替代。自2014年大基金實施以來，我國半導體全產業鏈得到了快速發展，未來也將不斷強化半導體產業地位。
半導體測試愈發重要
隨著技術發展，半導體晶元晶體管密度越來越高，相關產品複雜度及集成度呈現指數級增長，這對於晶元設計及開發而言是前所未有的挑戰。另一方面，隨著晶元開發周期的縮短，對於流片的成功率要求非常高，任何一次失敗，對企業而言都是無法承受的。為此，在晶元設計及開發過程中，需要進行充分的驗證和測試。除此之外，半導體製程工藝不斷提升，需要面臨大量的技術挑戰，測試和驗證也變得更加重要。
半導體測試（來源：NI）
與此同時，新興產業的發展也進一步凸顯半導體測試的重要性。例如，在國內外廠商的大力推動下，5G手機將會在2019年出現。隨著通信速度的大幅提升，對基帶和射頻前端都帶來前所未有的挑戰。由於需要支持更多的模式，射頻前端也將集成更多的模塊如功率放大器，低雜訊放大器（LNA），雙工器和天線開關等，並將其封裝在單個組件中。在研發設計及生產過程中，測試就變得非常重要。只有精確測量組件的各個參數，才能相應的優化設計方案，及提升產品生產成功率。
如何進行半導體測試？
對於半導體測試而言，雖然在批量生產、實驗室、晶圓等環節都需要用到，相關環節也比較複雜，但是電性能測試則是最為基本的環節。任何半導體器件或模組，在研發、設計及生產過程中，都免不了這一環節。
在電性能測試環節，目前最先進的測試方案就是源測量單元(SMU)。SMU是一種精密電源儀器，具備電壓輸出和測量以及電流輸出和測量功能。這種對電壓和電流的控制使您可以靈活地通過歐姆定律計算電阻和功率。可同時控制與量測高精度電壓、電流，專為消費性電子產品、IC設計與驗證、生醫、學術研究等實驗室提供電性能測試。
目前，市場上能夠提供源測量單元(SMU)廠商也不少，相關產品也有很多。然而，並不是測試儀器越昂貴，測試準確性就越高。想要真正意義上掌握源測量單元(SMU)，必須首先清楚誤差產生的原因，以及減小誤差的有效途徑。
對於半導體晶元而言，一次流片的成本高達數百萬人民幣，測試儀器參數的任何微小調整就有可能產生不同的結果。可謂是失之毫釐，差之千里！為此，我們特意為半導體從業人員準備了一份源測量單元(SMU)實用指南，針對測量精度、測量速度、電線電阻消除、偏移電壓補償、最小化外部雜訊、避免電流泄露以及校準等環節進行了具體說明，希望對大家有所幫助。
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