汽車電子面臨挑戰 自我測試是關鍵

作者：DIGITIMES庄瑞萌

車輛採用的電子系統IC複雜性逐漸提高，希望藉由執行人工智慧(AI)演算法控制自駕功能，同時也需滿足《道路車輛功能安全ISO 26262》標準（以下簡稱《ISO 26262》）要求。因此，IC設計公司也正快速採用完整性的測試解決方案，以便達到相關標準要求。

確保車輛電子能穩定的作法之一就是在功能運轉期間執行定期測試，也就是在邏輯與存儲器利用內建自我測試(Built-in Self Test；BIST)。邏輯BIST也是ISO 26262執行診斷測試的推薦機制，其包含應用在掃描鏈的晶元產生隨機模式，但在車用IC執行BIST仍有挑戰。

首先是符合診斷測試時間間隔(DTI)侷限，其次是打造邏輯BIST，以便滿足測試排程，第三是建立應用等級存取所有晶元邏輯BIST以及啟動市場反饋診斷。

《ISO 26262》指出，DTI必須介於100至幾微秒之間，這對於車用安全完整性等級中最嚴格的D標準是一項挑戰。另外，《ISO 26262》也定義當錯誤發生到錯誤帶來有害後果的一段時間。因此，為了符合DTI，測試必須平行執行，但執行平行測試是架構挑戰，可能會打破設計的功率預算。

所有功能安全監控與系統內測試活動，通常是由在專用或共享CPU上執行的軟體驅動，直接從軟體層存取測試機制可減緩開發流程壓力與降低測試延遲。

此外，能發現故障的電路相當重要，特別是牽涉法律責任的市場反饋。系統內測試解決方案必須能夠執行相同測試，且收集更多與製造測試檔案類似的測試細節。如此電路便可被診斷去發現故障根本原因。

隨著裝置尺寸與複雜性不斷增加，滿足《ISO 26262標準》的質量與可靠性要求變得更加困難，因此，在IC設計過程的早期便應考慮到設計測試活動。在先進可測試性設計(DFT)流程中採用邏輯BIST，則可幫助廠商達到質量與可靠性指標及產品差異化。車用安全相關IC的DFT則可透過EDA供應商提供的全面ISO 26262認證自動化給予輔助。

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